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???metadata.dc.type???: Dissertação
Title: Mascaramento de substratos escurecidos utilizando sistemas restauradores indiretos
Other Titles: Masking of darkened substrates using indirect restorative systems
???metadata.dc.creator???: Basegio, Matheus Müller 
???metadata.dc.contributor.advisor1???: Bona, Álvaro Della
???metadata.dc.description.resumo???: Esse estudo avaliou a capacidade de mascaramento de substratos escurecidos utilizando sistemas restauradores indiretos (SRI). Foram confeccionados corpos de prova (CP; 1,5 mm) a partir de cinco SRI diferentes: CAD-on (Zenostar + Crystall/Connect + IPS e.max=CAD); YLD-T (IPS e.maxZirCAD + IPS e.max Ceram); LDC (IPS e.max CAD); YZW (Zenostar); PICN (Enamic). CP foram acoplados (CP-A) com uma pasta teste ou cimentados (CP-C) com um cimento resinoso de dupla polimerização, ambos da mesma cor, sobre substratos (Natural Die Material) de três tonalidades diferentes (n=5). Amostras de cimento resinoso e pasta try in (1mm; n=5) também foram confeccionadas. As coordenadas de cor foram obtidas utilizando um espectrorradiômetro sobre fundo branco, com padronização das condições de iluminação e geometria óptica de 0/45°. A diferença de cor (¿E) entre os CP-A e CP-C sobre três cores de substrato e entre CP-A e CP-C foi calculada utilizando as métricas CIELAB e CIEDE2000. A translucidez dos SRI foi avaliada utilizando o parâmetro de translucidez (TP). O índice de clareamento (WID), o TP e o E entre as amostras de cimento resinoso e pasta try in foram avaliados. Os valores de - E foram considerados conforme os limiares de perceptibilidade (PT) e aceitabilidade (AT), e analisados estatisticamente usando análise de variância (ANOVA) e teste Tukey (= 0,05). Houve diferenças significativas do TP entre os grupos (p-0,05), exceto entre CAD-on e LDC (p > 0,05). YLD-T apresentou os menores valores de TP e E sendo o único abaixo de AT, para ambos CP-A e CP-C. Os valores de -E entre CP-A e CP-C ficaram abaixo de AT em ambas as métricas, exceto por um valor. Diferenças nos valores do WID, TP e - E foram encontrados entre as amostras do cimento resinoso e a pasta teste. O YLD-T mostrou ser o mais adequado para o mascaramento de substratos escurecidos, com base na translucidez e baixos valores E.
Abstract: This study evaluated the masking ability of discolored substrates using Indirect Restorative Systems (IRS). Specimens (1.5 mm) were prepared from five different IRS: CAD-on (Zenostar + Crystall / Connect + IPS e.max CAD); YLD-T (IPS e.max ZirCAD + IPS e.max Ceram); LDC (IPS e.max CAD); YZW (Zenostar); PICN (Enamic). Specimens (n= 5) were coupled (A) with a try-in paste or cemented (C) with a dual-cured resin cement, both having matching colors, on three different shades of substrate (Natural Die Material). Samples of resin cement and try-in paste (1mm thick; n=5) were also made. Color coordinates were obtained using a spectroradiometer on a white background, using standard lighting conditions and optical geometry of 0/45°. Color differences (ΔE) of all specimens (A and C) on each colored substrate and between A and C specimens were calculated using the CIELAB and CIEDE2000 metrics. Translucency of IRS was evaluated using the translucency parameter (TP). Whiteness index for dentistry (WID), TP and ∆E between specimens of resin cement and try-in paste were evaluated. Values of ΔE were associated to the perceptibility (PT) and acceptability (AT) thresholds, and statistically analyzed using analysis of variance (ANOVA) and Tukey test (α= 0.05). There were significant differences on TP among the IRS, except between CAD-on and LDC (p> 0.05). YLD-T showed the lowest TP and ΔE values, being the only IRS below AT for both A and C specimens. All ΔE values between A and C specimens were below AT for both metrics (CIELAB and CIEDE2000), except for one situation. Differences in WID, TP and ΔE values were found between the resin cement samples and the try-in paste. YLD-T showed the best masking ability to discolored substrates.
Keywords: Materiais dentários
Restauração (Odontologia)
Cerâmica odontológica
???metadata.dc.subject.cnpq???: CIENCIAS DA SAUDE::ODONTOLOGIA
???metadata.dc.language???: por
???metadata.dc.publisher.country???: Brasil
Publisher: Universidade de Passo Fundo
???metadata.dc.publisher.initials???: UPF
???metadata.dc.publisher.department???: Faculdade de Odontologia – FO
???metadata.dc.publisher.program???: Programa de Pós-Graduação em Odontologia
Citation: BASEGIO, Matheus Müller. Mascaramento de substratos escurecidos utilizando sistemas restauradores indiretos. 2018. 189 f. Dissertação (Mestrado em Odontologia) - Universidade de Passo Fundo, Passo Fundo, RS, 2018.
???metadata.dc.rights???: Acesso Aberto
URI: http://tede.upf.br:8080/jspui/handle/tede/1810
Issue Date: 6-Apr-2018
Appears in Collections:Programa de Pós-Graduação em Odontologia

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