@MASTERSTHESIS{ 2018:509264739,
 	title = {Mascaramento de substratos escurecidos utilizando sistemas restauradores indiretos},
 	year = {2018},
 	url = "http://tede.upf.br:8080/jspui/handle/tede/1810",
 	abstract = "Esse estudo avaliou a capacidade de mascaramento de substratos escurecidos utilizando sistemas restauradores indiretos (SRI). Foram confeccionados corpos de prova (CP; 1,5 mm) a partir de cinco SRI diferentes: CAD-on (Zenostar + Crystall/Connect + IPS e.max=CAD); YLD-T (IPS e.maxZirCAD + IPS e.max Ceram); LDC (IPS e.max CAD); YZW (Zenostar); PICN (Enamic). CP foram acoplados (CP-A) com uma pasta teste ou cimentados (CP-C) com um cimento resinoso de dupla polimerização, ambos da mesma cor, sobre substratos (Natural Die Material) de três tonalidades diferentes (n=5). Amostras de cimento resinoso e pasta try in (1mm; n=5) também foram confeccionadas. As coordenadas de cor foram obtidas utilizando um espectrorradiômetro sobre fundo branco, com padronização das condições de iluminação e geometria óptica de 0/45°. A diferença de cor (¿E) entre os CP-A e CP-C sobre três cores de substrato e entre CP-A e CP-C foi calculada utilizando as métricas CIELAB e CIEDE2000. A translucidez dos SRI foi avaliada utilizando o parâmetro de translucidez (TP). O índice de clareamento (WID), o TP e o E entre as amostras de cimento resinoso e pasta try in foram avaliados. Os valores de - E foram considerados conforme os limiares de perceptibilidade (PT) e aceitabilidade (AT), e analisados estatisticamente usando análise de variância (ANOVA) e teste Tukey (= 0,05). Houve diferenças significativas do TP entre os grupos (p-0,05), exceto entre CAD-on e LDC (p > 0,05). YLD-T apresentou os menores valores de TP e E sendo o único abaixo de AT, para ambos CP-A e CP-C. Os valores de -E entre CP-A e CP-C ficaram abaixo de AT em ambas as métricas, exceto por um valor. Diferenças nos valores do WID, TP e - E foram encontrados entre as amostras do cimento resinoso e a pasta teste. O YLD-T mostrou ser o mais adequado para o mascaramento de substratos escurecidos, com base na translucidez e baixos valores E.",
 	publisher = {Universidade de Passo Fundo},
 	scholl = {Programa de Pós-Graduação em Odontologia},
 	note = {Faculdade de Odontologia – FO}
}